產品時間:2023-06-06
快速(su)溫(wen)(wen)變試(shi)驗箱優勢(shi)溫(wen)(wen)度(du)循(xun)環(huan)試(shi)驗可引(yin)發產(chan)品由機械結構(gou)缺陷劣化產(chan)生的(de)(de)失效。一般應(ying)用于光電(dian)器件(jian)、互連電(dian)路、組件(jian)單元及電(dian)子設備的(de)(de)篩選試(shi)驗和失效模式評估(gu)。是發現(xian)產(chan)品設計缺陷和工藝問題的(de)(de)有效方法(fa)。
快速溫變試驗箱優勢
產品簡介
快速溫(wen)變(bian)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)用于(yu)考察產(chan)品(pin)熱(re)(re)機械(xie)性能引(yin)起的(de)(de)失(shi)效(xiao),溫(wen)度(du)變(bian)化(hua)率一般(ban)小(xiao)于(yu)20℃/分鐘,再現(xian)所測樣件應用環(huan)境條(tiao)件。當構成(cheng)產(chan)品(pin)各(ge)部件的(de)(de)材料(liao)熱(re)(re)匹配較差,或部件內應力較大時,溫(wen)度(du)循環(huan)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)可引(yin)發產(chan)品(pin)由(you)機械(xie)結構缺(que)陷劣化(hua)產(chan)生的(de)(de)失(shi)效(xiao)。一般(ban)應用于(yu)光電器(qi)件、互連電路、組件單元及電子設備的(de)(de)篩選試(shi)(shi)驗(yan)(yan)和失(shi)效(xiao)模式評估。是(shi)發現(xian)產(chan)品(pin)設計(ji)缺(que)陷和工藝問題的(de)(de)有效(xiao)方法。
溫度快速變(bian)化試驗箱適(shi)用于航空航天產品、信息電(dian)(dian)子(zi)儀(yi)器(qi)儀(yi)表、材料、電(dian)(dian)工、電(dian)(dian)子(zi)產品、各種(zhong)電(dian)(dian)子(zi)元氣件在高溫低溫快速變(bian)化的環境下、檢驗其各性(xing)能項指標。
快速溫變試驗箱優勢
技術(shu)參數
工作室容積: | 7m3(可定制) |
內箱尺寸: | 1700*1700*2500mm |
外箱尺寸: | 2400*3400*3050mm |
溫度范圍: | -70~+150℃ |
溫度均勻度: | ≤±2℃(空載,布(bu)置15點計量) |
發熱負載: | 500kg鋁錠(ding),13kW發熱量(滿載) |
溫度偏差: | ≤±2℃(空載(zai)) 滿(man)載時(shi)溫(wen)度(du)偏差(cha)±≤5℃(布(bu)置15點計(ji)量,計(ji)量時(shi)以大升降溫(wen)速(su)率設定(ding),當出(chu)風口(kou)溫(wen)度(du)到達(da)設定(ding)溫(wen)度(du)值時(shi)開(kai)始計(ji)時(shi),5分(fen)鐘內溫(wen)度(du)偏差(cha)≤5℃) |
溫度波動度: | ≤±0.5℃(空載); 滿載時(shi)溫度波動度:≤±1.0℃,出風(feng)口計(ji)量。 |
升溫速度: | 平均(jun)3度/分鐘, |
滿載升降溫速率: | 70℃~-10℃≥5℃/min(全(quan)程(cheng)平均(jun));出風口(kou)測量(liang); |
空載升降溫速率: | 70℃~-10℃≥10℃/min(全(quan)程(cheng)平均);出(chu)風口測量; |
溫度過沖: | ≤5℃(布(bu)置15點計量); |
試驗箱風量: | ≥17500CFM |
外壁材料: | 不(bu)銹(xiu)鋼(gang)板(ban)SUS #304或鍍鋅鋼(gang)板(ban)雙面噴漆,厚度(du)不(bu)小于1.0mm; |
內壁材料: | 不銹鋼板SUS #304,厚度不小于1.0mm; |
保溫材料: | 箱體保(bao)(bao)溫材料為硬質聚氨酯(zhi)泡沫或(huo)更優材質保(bao)(bao)溫材料,厚(hou)度≥100mm; |
試驗箱底板承重能力: | ≥1000kg/㎡(均(jun)勻負載) |